一、用途
XG-YW4800原位根系生长监测系统是一款土壤根系原位平面多层次图像监测仪，可获取土壤、根系侧面剖面图像，监测土壤中活体根系的生长状态，可获取高分辨率图像用于分析根系的详细结构。利用专业的原位根系分析软件可快速的分析计算获得根长、根表面积、体积、平均直径、根尖数等根系形态参数。
本仪器克服了旋转式根系监测仪的局限性，可以连续测量一个完整平面的根系生长状况，对根系研究更有实际意义。
二、产品特点
非破坏性原位平面测量；
可获取高分辨率彩色图像；
可获取根系不同深度的图像，合成整体根系剖面图；
可定点、连续观测根系在整个生长季节的动态变化；
三、技术参数
主机分辨率：4800*9600 dpi
获取图像速度：12S
传感器：CIS
光源：LED
单次扫描宽度：216mm
单次扫描深度：297mm
色彩深度：48位
扫描窗口：双面 1000*267*50 mm
外置电源：20000mAH
笔记本电脑：i5，11代 cpu，8g内存
